제품이 장바구니에 추가됨

Line Grid Target

×
  • 비전 시스템에서 왜곡 측정 및 교정
  • 현미경 스테이지에서 원근법 오차(Perspective error) 보정
  • 물리적인 시야(FOV) 측정

공통 스펙

Optical Density OD (Average):
>3.0
Overall Accuracy (mm):
±0.002
Surface Quality:
20-10 over active area, 60-40 outside
Center to Center Spacing (mm):
1.00 ±0.001
Surface Flatness (P-V):
3 - 4λ
 제목   제품 비교하기   재고 번호   가격(부가세 별도)  구입하기
Line Grid Chrome On Glass 2" x 2" #62-536 KRW 912,100 수량 5+ KRW 867,700   견적 요청  
  • 3~5일내 배송
    ×
 
1" x 1", Line Grid Low Reflective Chrome #62-537 KRW 912,100 수량 5+ KRW 867,700   견적 요청  
  • 품절/문의요망
    ×
 
2" x 2", Line Grid Low Reflective Chrome #62-538 KRW 1,067,200 수량 5+ KRW 1,014,000   견적 요청  
  • 3~5일내 배송
    ×
 

Line Grid Target은 비전 시스템과 현미경 스테이지의 교정을 위해 X, Y축 방향으로 반복적인 평행선을 가진 패턴으로 설계된 제품입니다. 이러한 패턴을 이용하면 왜곡 및 원근법의 오차를 정량화해 시스템을 교정할 수 있습니다. Line Grid Target은 투명성을 띄어 백라이트를 통한 투과형 조명에 사용할 수 있습니다. 이에 반해 Low Reflection Chrome on White Soda Lime Glass는 타깃의 이미지 품질을 저하하는 반사를 최소화하여 전면광과 함께 반사형 조명에 사용할 수 있습니다.

Filter

Wavelength and f#

This demonstration exemplifies why wavelength and f/# can drastically affect the performance of imaging systems and should not be overlooked.

바로 보기

What is a video micrometer?

What is the cycle length of a Metric Ronchi Ruling?

Lens Types, Resolution, and Sensor Coverage

No imaging lens is the ideal choice for every type of imaging sensor, as multiple tradeoffs must be weighed and prioritized for every application.

바로 보기

Axial and Lateral Chromatic Aberration

Chromatic aberrations impact the performance of imaging systems in many different ways, as exemplified in this hands-on demonstration.

바로 보기

Best Practice #6 There Can Be Only One

Join Nick Sischka, Director of Imaging, as he reviews some best practices to consider when designing an imaging system.

바로 보기

Testing 및 Targets

Discover the different types of testing targets and their ideal applications, advantages, limitations, equations, and examples at Edmund Optics.

바로 보기

Choosing the Correct Test Target

Do you have a question about test targets? Find out how to choose the correct test target for your system along with application examples at Edmund Optics.

바로 보기

EO Imaging Lab 모듈 1.3: Resolution

Learn how to specify imaging system components.

바로 보기

EO Imaging Lab 모듈 1.6: Resolution에 대한 자세한 설명

Learn how to specify imaging system components.

바로 보기

EO Imaging Lab 모듈 1.8: Depth of Field에 대한 자세한 설명

Learn how to specify imaging system components.

바로 보기

EO Imaging Lab 모듈 2: 계측 정확성 개요

Learn how to specify imaging system components.

바로 보기

EO Imaging Lab 모듈 2.1: Distortion

Learn how to specify imaging system components.

바로 보기

EO Imaging Lab 모듈 2.2: Telecentricity

Learn how to specify imaging system components.

바로 보기

How I do select the correct testing target for my electronic imaging system (camera & lens)?

 
영업 & 기술 지원
 
본사 및 지사별 연락처 확인하기
빠른
견적 요청 도구
재고 번호 입력 필요