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BeamR2-Si Scanning Slit Beam Profiler

#24-215 DataRay Scanning Slit Beam Profiler

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Mount:
1/4-20 thread
Dimensions (mm):
60.96 x 67.31 x 66.17
Signal to Noise S/N Ratio (dB):
1‚000:1
Spectral Range:
190 - 1150
Dimensional Accuracy:
±1µm
Maximum Power (W):
1 W Total & 0.5 mW/µm²
Frame Rate:
5Hz
Beam Diameter (μm):
2µm to 4mm

Regulatory Compliance

RoHS 2015:
Certificate of Conformance:
REACH 241:

제품군의 상세 설명

  • 190 - 1150nm 파장 대역에서 사용하도록 설계
  • 측정 가능한 빔 직경: 2μm - 4mm
  • 강력하고 사용이 간편한 소프트웨어 무료 제공

해당 제품은 190 - 1150nm 파장 범위에 적합한 실리콘 디텍터가 특징입니다. 2.5µm의 슬릿과 더 큰 나이프 엣지 슬릿이 장착된 Beam'R2는 직경이 <2µm인 빔을 측정할 수 있습니다. 스캐닝 슬릿 장치는 카메라 기반 시스템보다 훨씬 높은 해상도를 제공하며 연속파 및 펄스 레이저 광원 모두와 호환됩니다. 해당 제품은 광학 어셈블리 및 장비 정렬, 포커싱/정렬 오류에 대한 실시간 진단, 여러 어셈블리를 동일한 초점 위치에서 실시간으로 설정하는 데 적합합니다. 또한, USB 2.0으로 전원을 공급하며 3m USB 2.0 케이블이 포함되어 있습니다.

 
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